西浦先进半导体研究中心2026系列学术报告_ 增强型GaN功率器件:器件模型、稳定性与可靠性研究进展

2026-06-29

10:00 AM - 11:30 AM

IBSS-BS4114


活动详情

  • 时间:2026年6月29日10:00-11:30
  • 地点:江苏省苏州市工业园区独墅湖高教区仁爱路111号西交利物浦大学南校区IBSS楼-BS4114
  • 语言:中文
  • 主办部门:西交利物浦大学先进半导体研究中心

报告嘉宾

任开琳 博士

任开琳,上海大学钱伟长学院副院长、微电子学院副教授、博士生导师,中国图像图形学会智能图像感知微系统专委会委员,2021年博士毕业于新加坡国立大学微电子学专业,并入选上海市海外高层次人才引进计划。研究方向围绕GaN功率器件、功率集成及光电集成,近五年在IEEE EDL、IEEE T-ED等微电子领域权威期刊上发表SCI论文三十余篇。

报告摘要

p-GaN栅增强型GaN功率器件凭借其高频和高功率密度优势,在数据中心服务器电源、电动汽车及光伏逆变器等领域具有广阔应用前景。针对其现存的器件模型精度、阈值电压稳定性、短路可靠性等问题,本报告介绍其改进型QPZD模型、高稳定性新器件结构设计、亚微秒级短路失效机理等方面的研究进展,最后介绍其光电单片集成新结构设计及潜在应用场景。

参会方式

请扫描下方二维码注册报名

分享此活动
您可能感兴趣

立即报名参加本次活动

注册